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不同剂量率下锗硅异质结双极晶体管电离损伤效应研究

孙亚宾 付军 许军 王玉东 周卫 张伟 崔杰 李高庆 刘志弘

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不同剂量率下锗硅异质结双极晶体管电离损伤效应研究

孙亚宾, 付军, 许军, 王玉东, 周卫, 张伟, 崔杰, 李高庆, 刘志弘

Study on ionization damage of silicon-germanium heterojunction bipolar transistors at various dose rates

Sun Ya-Bin, Fu Jun, Xu Jun, Wang Yu-Dong, Zhou Wei, Zhang Wei, Cui Jie, Li Gao-Qing, Liu Zhi-Hong
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出版历程
  • 收稿日期:  2013-05-24
  • 修回日期:  2013-07-03
  • 刊出日期:  2013-10-05

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