[1] |
王路生, 罗龙, 刘浩, 杨鑫, 丁军, 宋鹍, 路世青, 黄霞. 冲击速度对单晶镍层裂行为的影响规律及作用机制.
,
2024, 73(16): 164601.
doi: 10.7498/aps.73.20240244
|
[2] |
林茜, 谢普初, 胡建波, 张凤国, 王裴, 王永刚. 不同晶粒度高纯铜层裂损伤演化的有限元模拟.
,
2021, 70(20): 204601.
doi: 10.7498/aps.70.20210726
|
[3] |
朱琪, 王升涛, 赵福祺, 潘昊. 层错四面体对单晶铜层裂行为影响的分子动力学研究.
,
2020, 69(3): 036201.
doi: 10.7498/aps.69.20191425
|
[4] |
席涛, 范伟, 储根柏, 税敏, 何卫华, 赵永强, 辛建婷, 谷渝秋. 超高应变率载荷下铜材料层裂特性研究.
,
2017, 66(4): 040202.
doi: 10.7498/aps.66.040202
|
[5] |
陈桂波, 张佳佳, 王超群, 毕娟. 一种基于激光辐照热效应的薄膜参数反演方法.
,
2016, 65(12): 124401.
doi: 10.7498/aps.65.124401
|
[6] |
裴晓阳, 彭辉, 贺红亮, 李平. 加载应力幅值对高纯铜动态损伤演化特性研究.
,
2015, 64(5): 054601.
doi: 10.7498/aps.64.054601
|
[7] |
裴晓阳, 彭辉, 贺红亮, 李平. 延性金属层裂自由面速度曲线物理涵义解读.
,
2015, 64(3): 034601.
doi: 10.7498/aps.64.034601
|
[8] |
黄立静, 任乃飞, 李保家, 周明. 激光辐照对热退火金属/掺氟二氧化锡透明导电薄膜光电性能的影响.
,
2015, 64(3): 034211.
doi: 10.7498/aps.64.034211
|
[9] |
邓发明, 高涛, 沈艳红, 龚艳蓉. 强激光辐照对3C-SiC晶体结构稳定性的影响.
,
2015, 64(4): 046301.
doi: 10.7498/aps.64.046301
|
[10] |
彭辉, 李平, 裴晓阳, 贺红亮, 程和平, 祁美兰. 平面冲击下铜的拉伸应变率相关特性研究.
,
2014, 63(19): 196202.
doi: 10.7498/aps.63.196202
|
[11] |
张凤国, 周洪强. 晶粒尺度对延性金属材料层裂损伤的影响.
,
2013, 62(16): 164601.
doi: 10.7498/aps.62.164601
|
[12] |
王永刚, 胡剑东, 祁美兰, 贺红亮. 基于单孔洞近似的高纯铝部分层裂实验的数值模拟研究.
,
2011, 60(12): 126201.
doi: 10.7498/aps.60.126201
|
[13] |
陈永涛, 唐小军, 李庆忠. Fe基α相合金的冲击相变及其对层裂行为的影响研究.
,
2011, 60(4): 046401.
doi: 10.7498/aps.60.046401
|
[14] |
夏志林. 激光作用下纳米限域介质材料中的电子加速过程.
,
2011, 60(5): 056804.
doi: 10.7498/aps.60.056804
|
[15] |
赵艳, 蒋毅坚. ZnO薄膜的激光辐照效应研究.
,
2010, 59(4): 2679-2684.
doi: 10.7498/aps.59.2679
|
[16] |
常雷, 蒋毅坚. La0.67Ba0.33MnO3薄膜的激光辐照效应研究.
,
2009, 58(3): 1997-2001.
doi: 10.7498/aps.58.1997
|
[17] |
刘艳松, 陈 铠, 乔 峰, 黄信凡, 韩培高, 钱 波, 马忠元, 李 伟, 徐 骏, 陈坤基. 尺寸可控的纳米硅的生长模型和实验验证.
,
2006, 55(10): 5403-5408.
doi: 10.7498/aps.55.5403
|
[18] |
罗 晋, 祝文军, 林理彬, 贺红亮, 经福谦. 单晶铜在动态加载下空洞增长的分子动力学研究.
,
2005, 54(6): 2791-2798.
doi: 10.7498/aps.54.2791
|
[19] |
牛燕雄, 黄 峰, 段晓峰, 汪岳峰, 张 鹏, 何琛娟, 禹 晔, 姚建铨. 脉冲激光对类金刚石(DLC)薄膜的热冲击效应研究.
,
2005, 54(10): 4816-4821.
doi: 10.7498/aps.54.4816
|
[20] |
郑瑞伦, 陈洪, 刘俊. 矩形激光脉冲辐照下金属板材料温度分布研究.
,
2002, 51(3): 554-558.
doi: 10.7498/aps.51.554
|