[1] |
李俊炜, 贾维敏, 吕沙沙, 魏雅璇, 李正操, 王金涛. 氢气在γ-U (100) /Mo表面吸附行为的第一性原理研究.
,
2022, 71(22): 226601.
doi: 10.7498/aps.71.20220631
|
[2] |
廖庆, 李炳生, 葛芳芳, 张宏鹏, 申铁龙, 毛雪丽, 王任大, 盛彦斌, 常海龙, 王志光, 徐帅, 陈黎明, 何晓珣. T91钢和SIMP钢表面AlOx涂层在600 ℃静态液态铅铋共晶中的稳定性和腐蚀行为.
,
2022, 71(15): 156103.
doi: 10.7498/aps.71.20220356
|
[3] |
唐昊, 白辉, 吕嘉南, 华思恒, 鄢永高, 杨东旺, 吴劲松, 苏贤礼, 唐新峰. 表面修饰工程协同优化Bi2Te3基微型热电器件的界面性能.
,
2022, 71(16): 167101.
doi: 10.7498/aps.71.20220549
|
[4] |
郭晓蒙, 青芳竹, 李雪松. 石墨烯在金属表面防腐中的应用.
,
2021, 70(9): 098102.
doi: 10.7498/aps.70.20210349
|
[5] |
黄浩, 张侃, 吴明, 李虎, 王敏涓, 张书铭, 陈建宏, 文懋. SiC纤维增强Ti17合金复合材料轴向残余应力的拉曼光谱和X射线衍射法对比研究.
,
2018, 67(19): 197203.
doi: 10.7498/aps.67.20181157
|
[6] |
陆勇俊, 杨溢, 王峰会, 楼康, 赵翔. 连续梯度的功能层对燃料电池在初始还原过程中曲率及残余应力的影响.
,
2016, 65(9): 098102.
doi: 10.7498/aps.65.098102
|
[7] |
王宏, 云峰, 刘硕, 黄亚平, 王越, 张维涵, 魏政鸿, 丁文, 李虞锋, 张烨, 郭茂峰. 晶圆键合和激光剥离工艺对GaN基垂直结构发光二极管芯片残余应力的影响.
,
2015, 64(2): 028501.
doi: 10.7498/aps.64.028501
|
[8] |
叶凤霞, 陈燕, 余鹏, 罗强, 曲寿江, 沈军. 通过AC-HVAF方法制备铁基非晶合金涂层的结构分析.
,
2014, 63(7): 078101.
doi: 10.7498/aps.63.078101
|
[9] |
李文胜, 罗时军, 黄海铭, 张琴, 付艳华. 一种基于光子晶体结构的坦克涂层设计.
,
2012, 61(16): 164102.
doi: 10.7498/aps.61.164102
|
[10] |
江微微, 范林勇, 赵瑞峰, 卫延, 裴丽, 简水生. 基于双芯光纤耦合器的梳状滤波器及其CO2激光调节.
,
2011, 60(4): 044214.
doi: 10.7498/aps.60.044214
|
[11] |
胡卫强, 刘宗德, 王永田, 夏兴祥. 快冷熔覆法原位合成大厚度铁基非晶复合涂层的研究.
,
2011, 60(2): 027103.
doi: 10.7498/aps.60.027103
|
[12] |
江洋, 罗毅, 席光义, 汪莱, 李洪涛, 赵维, 韩彦军. AlGaN插入层对6H-SiC上金属有机物气相外延生长的GaN薄膜残余应力及表面形貌的影响.
,
2009, 58(10): 7282-7287.
doi: 10.7498/aps.58.7282
|
[13] |
岑忞, 章岳光, 陈卫兰, 顾培夫. 沉积速率和氧分压对HfO2薄膜残余应力的影响.
,
2009, 58(10): 7025-7029.
doi: 10.7498/aps.58.7025
|
[14] |
孙浩亮, 宋忠孝, 徐可为. 基体对应力诱导的纳米晶W膜开裂行为的影响.
,
2008, 57(8): 5226-5231.
doi: 10.7498/aps.57.5226
|
[15] |
张拴勤, 石云龙, 黄长庚, 连长春. 隐身涂层的光谱反射特性设计.
,
2007, 56(9): 5508-5512.
doi: 10.7498/aps.56.5508
|
[16] |
孔德军, 张永康, 陈志刚, 鲁金忠, 冯爱新, 任旭东, 葛 涛. 基于XRD的镀锌钝化膜残余应力试验研究.
,
2007, 56(7): 4056-4061.
doi: 10.7498/aps.56.4056
|
[17] |
张永康, 孔德军, 冯爱新, 鲁金忠, 张雷洪, 葛 涛. 涂层界面结合强度检测研究(Ⅰ):涂层结合界面应力的理论分析.
,
2006, 55(6): 2897-2900.
doi: 10.7498/aps.55.2897
|
[18] |
邸玉贤, 计欣华, 胡 明, 秦玉文, 陈金龙. 基片曲率法在多孔硅薄膜残余应力检测中的应用.
,
2006, 55(10): 5451-5454.
doi: 10.7498/aps.55.5451
|
[19] |
秦 琦, 于乃森, 郭丽伟, 汪 洋, 朱学亮, 陈 弘, 周均铭. 使用SiNx原位淀积方法生长的GaN外延膜中的应力研究.
,
2005, 54(11): 5450-5454.
doi: 10.7498/aps.54.5450
|
[20] |
邵淑英, 范正修, 邵建达. ZrO2/SiO2多层膜中膜厚组合周期数及基底材料对残余应力的影响.
,
2005, 54(7): 3312-3316.
doi: 10.7498/aps.54.3312
|