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基于1/f 噪声变化的pn结二极管辐射效应退化机理研究

孙鹏 杜磊 何亮 陈文豪 刘玉栋 赵瑛

引用本文:
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基于1/f 噪声变化的pn结二极管辐射效应退化机理研究

孙鹏, 杜磊, 何亮, 陈文豪, 刘玉栋, 赵瑛

Radiation degradation mechanism of pn-junction diode based on 1/f noise variation

Sun Peng, Du Lei, He Liang, Chen Wen-Hao, Liu Yu-Dong, Zhao Ying
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-09-27
  • 修回日期:  2011-11-16
  • 刊出日期:  2012-06-05

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