[1] |
吴诗漫, 陶思敏, 吉爱闯, 管绍杭, 肖剑荣. 硒化温度对MoSe2薄膜结构和光学带隙的影响.
,
2024, 73(19): 196801.
doi: 10.7498/aps.73.20240611
|
[2] |
孙涛, 袁健美. 基于迁移学习的钙钛矿材料带隙预测.
,
2023, 72(21): 218901.
doi: 10.7498/aps.72.20231027
|
[3] |
王晓菲, 孟威威, 赵培丽, 贾双凤, 郑赫, 王建波. 单层Nb2SiTe4基化合物的带隙异常变化.
,
2023, 72(5): 057102.
doi: 10.7498/aps.72.20222058
|
[4] |
孙晓晨, 何程, 卢明辉, 陈延峰. 人工带隙材料的拓扑性质.
,
2017, 66(22): 224203.
doi: 10.7498/aps.66.224203
|
[5] |
张慧珍, 李金涛, 吕文刚, 杨海方, 唐成春, 顾长志, 李俊杰. 石墨烯纳米结构的制备及带隙调控研究.
,
2017, 66(21): 217301.
doi: 10.7498/aps.66.217301
|
[6] |
邹俊辉, 张娟. 混合准周期异质结构的带隙补偿与展宽.
,
2016, 65(1): 014214.
doi: 10.7498/aps.65.014214
|
[7] |
吴成国, 武文远, 龚艳春, 戴斌飞, 何苏红, 黄雁华. 高压下Zn2GeO4带隙变化的第一性原理研究.
,
2015, 64(11): 114213.
doi: 10.7498/aps.64.114213
|
[8] |
黄丽萍, 洪斌斌, 刘畅, 唐昌建. 220GHz三次谐波光子带隙谐振腔回旋管振荡器的研究.
,
2014, 63(11): 118401.
doi: 10.7498/aps.63.118401
|
[9] |
毛斐, 侯清玉, 赵春旺, 郭少强. Pr高掺杂浓度对锐钛矿TiO2的带隙和吸收光谱影响的研究.
,
2014, 63(5): 057103.
doi: 10.7498/aps.63.057103
|
[10] |
谢知, 程文旦. TiO2纳米管电子结构和光学性质的第一性原理研究.
,
2014, 63(24): 243102.
doi: 10.7498/aps.63.243102
|
[11] |
白敏, 宣荣喜, 宋建军, 张鹤鸣, 胡辉勇, 舒斌. 直接带隙Ge1-xSnx本征载流子浓度研究.
,
2014, 63(23): 238502.
doi: 10.7498/aps.63.238502
|
[12] |
罗晓东, 狄国庆. 溅射制备Ge,Nb共掺杂窄光学带隙和低电阻率的TiO2薄膜.
,
2012, 61(20): 206803.
doi: 10.7498/aps.61.206803
|
[13] |
罗尧天, 唐昌建. 光子带隙谐振腔回旋管振荡器的自洽非线性理论.
,
2011, 60(1): 014104.
doi: 10.7498/aps.60.014104
|
[14] |
邓杨, 王如志, 徐利春, 房慧, 严辉. 立方(Ba0.5Sr0.5)TiO3高压诱导带隙变化的第一性原理研究.
,
2011, 60(11): 117309.
doi: 10.7498/aps.60.117309
|
[15] |
高立, 张建民. 带隙可调的Al,Mg掺杂ZnO薄膜的制备.
,
2009, 58(10): 7199-7203.
doi: 10.7498/aps.58.7199
|
[16] |
刘畅, 罗尧天, 唐昌建, 刘濮鲲. 回旋管光子带隙谐振腔冷腔电磁模式分析.
,
2009, 58(12): 8174-8179.
doi: 10.7498/aps.58.8174
|
[17] |
邓金祥, 汪旭洋, 姚 倩, 周 涛, 张晓康. 立方氮化硼薄膜的光学带隙.
,
2008, 57(10): 6631-6635.
doi: 10.7498/aps.57.6631
|
[18] |
张 苑, 赵 颖, 蔡 宁, 熊绍珍. 锐钛矿相TiO2纳米管的制备及其染料敏化太阳电池.
,
2008, 57(9): 5806-5809.
doi: 10.7498/aps.57.5806
|
[19] |
成步文, 姚 飞, 薛春来, 张建国, 李传波, 毛容伟, 左玉华, 罗丽萍, 王启明. 带隙法测定SiGe/Si材料的应变状态.
,
2005, 54(9): 4350-4353.
doi: 10.7498/aps.54.4350
|
[20] |
伞海生, 李 斌, 冯博学, 何毓阳, 陈 冲. 由缺陷引起的Burstein-Moss和带隙收缩效应对CdIn2O4透明导电薄膜光带隙的影响.
,
2005, 54(2): 842-847.
doi: 10.7498/aps.54.842
|