[1] |
吴诗漫, 陶思敏, 吉爱闯, 管绍杭, 肖剑荣. 硒化温度对MoSe2薄膜结构和光学带隙的影响.
,
2024, 73(19): 196801.
doi: 10.7498/aps.73.20240611
|
[2] |
李同锴, 徐征, 赵谡玲, 徐叙瑢, 薛俊明. 过渡区p型氢化硅氧薄膜结构和光电特性的研究.
,
2017, 66(19): 196801.
doi: 10.7498/aps.66.196801
|
[3] |
郭少强, 侯清玉, 赵春旺, 毛斐. V高掺杂ZnO最小光学带隙和吸收光谱的第一性原理研究.
,
2014, 63(10): 107101.
doi: 10.7498/aps.63.107101
|
[4] |
马海林, 苏庆. 氧分压对溅射制备氧化镓薄膜结构及光学带隙的影响.
,
2014, 63(11): 116701.
doi: 10.7498/aps.63.116701
|
[5] |
宗双飞, 沈祥, 徐铁峰, 陈昱, 王国祥, 陈芬, 李军, 林常规, 聂秋华. Ge20Sb15Se65薄膜的热致光学特性变化研究.
,
2013, 62(9): 096801.
doi: 10.7498/aps.62.096801
|
[6] |
罗晓东, 狄国庆. 溅射制备Ge,Nb共掺杂窄光学带隙和低电阻率的TiO2薄膜.
,
2012, 61(20): 206803.
doi: 10.7498/aps.61.206803
|
[7] |
聂秋华, 王国祥, 王训四, 徐铁峰, 戴世勋, 沈祥. Ga对新型远红外Te基硫系玻璃光学性能的影响.
,
2010, 59(11): 7949-7955.
doi: 10.7498/aps.59.7949
|
[8] |
兰伟, 唐国梅, 曹文磊, 刘雪芹, 王印月. Ni掺杂ZnO薄膜的结构与光学特性研究.
,
2009, 58(12): 8501-8505.
doi: 10.7498/aps.58.8501
|
[9] |
贾璐, 谢二庆, 潘孝军, 张振兴. 溅射制备非晶氮化镓薄膜的光学性能.
,
2009, 58(5): 3377-3382.
doi: 10.7498/aps.58.3377
|
[10] |
杨杭生, 聂安民, 张健英. 立方氮化硼薄膜的最新研究进展.
,
2009, 58(2): 1364-1370.
doi: 10.7498/aps.58.1364
|
[11] |
蒋爱华, 肖剑荣, 王德安. 退火对含氮氟非晶碳膜结构及光学带隙的影响.
,
2008, 57(9): 6013-6017.
doi: 10.7498/aps.57.6013
|
[12] |
潘孝军, 张振兴, 王 涛, 李 晖, 谢二庆. 溅射制备纳米晶GaN∶Er薄膜的室温发光特性.
,
2008, 57(6): 3786-3790.
doi: 10.7498/aps.57.3786
|
[13] |
许 颖, 刁宏伟, 张世斌, 励旭东, 曾湘波, 王文静, 廖显伯. 微量掺碳nc-SiC:H薄膜用于p-i-n太阳电池的窗口层.
,
2007, 56(5): 2915-2919.
doi: 10.7498/aps.56.2915
|
[14] |
杨杭生, 谢英俊. 立方氮化硼薄膜生长过程中的界面控制.
,
2007, 56(9): 5400-5407.
doi: 10.7498/aps.56.5400
|
[15] |
肖剑荣, 徐 慧, 郭爱敏, 王焕友. 含氮氟化类金刚石(FN-DLC)薄膜的研究:(Ⅱ)射频功率对薄膜光学带隙的影响.
,
2007, 56(3): 1809-1814.
doi: 10.7498/aps.56.1809
|
[16] |
肖剑荣, 徐 慧, 李燕峰, 李明君. 氮分压对氮化铜薄膜结构及光学带隙的影响.
,
2007, 56(7): 4169-4174.
doi: 10.7498/aps.56.4169
|
[17] |
杨杭生. 等离子体增强化学气相沉积法制备立方氮化硼薄膜过程中的表面生长机理.
,
2006, 55(8): 4238-4246.
doi: 10.7498/aps.55.4238
|
[18] |
辛煜, 宁兆元, 程珊华, 陆新华, 甘肇强, 黄松. ECR-CVD法制备的a-C:F:H薄膜在N2气氛中的热退火研究.
,
2002, 51(2): 439-443.
doi: 10.7498/aps.51.439
|
[19] |
叶超, 宁兆元, 程珊华, 王响英. 氟化非晶碳薄膜的光学带隙分析.
,
2002, 51(11): 2640-2643.
doi: 10.7498/aps.51.2640
|
[20] |
杨慎东, 宁兆元, 黄峰, 程珊华, 叶超. a-C:F薄膜的热稳定性与光学带隙的关联.
,
2002, 51(6): 1321-1325.
doi: 10.7498/aps.51.1321
|