[1] |
王娜, 许会芳, 杨秋云, 章毛连, 林子敬. 单层CrI3电荷输运性质和光学性质应变调控的第一性原理研究.
,
2022, 71(20): 207102.
doi: 10.7498/aps.71.20221019
|
[2] |
潘凤春, 林雪玲, 王旭明. 应变对(Ga, Mo)Sb磁学和光学性质影响的理论研究.
,
2022, 71(9): 096103.
doi: 10.7498/aps.71.20212316
|
[3] |
潘凤春, 林雪玲, 曹志杰, 李小伏. Fe, Co, Ni掺杂GaSb的电子结构和光学性质.
,
2019, 68(18): 184202.
doi: 10.7498/aps.68.20190290
|
[4] |
王鑫, 李桦, 董正超, 仲崇贵. 二维应变作用下超导薄膜LiFeAs的磁性和电子性质.
,
2019, 68(2): 027401.
doi: 10.7498/aps.68.20180957
|
[5] |
肖美霞, 梁尤平, 陈玉琴, 刘萌. 应变对两层半氢化氮化镓薄膜电磁学性质的调控机理研究.
,
2016, 65(2): 023101.
doi: 10.7498/aps.65.023101
|
[6] |
胡永金, 吴云沛, 刘国营, 罗时军, 何开华. ZnTe结构相变、电子结构和光学性质的研究.
,
2015, 64(22): 227802.
doi: 10.7498/aps.64.227802
|
[7] |
李建华, 崔元顺, 曾祥华, 陈贵宾. ZnS结构相变、电子结构和光学性质的研究.
,
2013, 62(7): 077102.
doi: 10.7498/aps.62.077102
|
[8] |
谢剑锋, 曹觉先. 六角氮化硼片能带结构的应变调控.
,
2013, 62(1): 017302.
doi: 10.7498/aps.62.017302
|
[9] |
潘磊, 卢铁城, 苏锐, 王跃忠, 齐建起, 付佳, 张燚, 贺端威. -AlON晶体电子结构和光学性质研究.
,
2012, 61(2): 027101.
doi: 10.7498/aps.61.027101
|
[10] |
黄诗浩, 李成, 陈城钊, 郑元宇, 赖虹凯, 陈松岩. N型掺杂应变Ge发光性质.
,
2012, 61(3): 036202.
doi: 10.7498/aps.61.036202
|
[11] |
孙中华, 王红艳, 张志东, 张中月. 金纳米环结构的光学性质研究.
,
2011, 60(4): 047808.
doi: 10.7498/aps.60.047808
|
[12] |
顾芳, 张加宏, 杨丽娟, 顾斌. 应变石墨烯纳米带谐振特性的分子动力学研究.
,
2011, 60(5): 056103.
doi: 10.7498/aps.60.056103
|
[13] |
李旭珍, 谢泉, 陈茜, 赵凤娟, 崔冬萌. OsSi2电子结构和光学性质的研究.
,
2010, 59(3): 2016-2021.
doi: 10.7498/aps.59.2016
|
[14] |
姚文杰, 俞重远, 刘玉敏, 芦鹏飞. 基于连续弹性理论分析量子线线宽对应变分布和带隙的影响.
,
2009, 58(2): 1185-1189.
doi: 10.7498/aps.58.1185
|
[15] |
段满益, 徐 明, 周海平, 陈青云, 胡志刚, 董成军. 碳掺杂ZnO的电子结构和光学性质.
,
2008, 57(10): 6520-6525.
doi: 10.7498/aps.57.6520
|
[16] |
邢海英, 范广涵, 赵德刚, 何 苗, 章 勇, 周天明. Mn掺杂GaN电子结构和光学性质研究.
,
2008, 57(10): 6513-6519.
doi: 10.7498/aps.57.6513
|
[17] |
关 丽, 刘保亭, 李 旭, 赵庆勋, 王英龙, 郭建新, 王书彪. 萤石结构TiO2的电子结构和光学性质.
,
2008, 57(1): 482-487.
doi: 10.7498/aps.57.482
|
[18] |
沈益斌, 周 勋, 徐 明, 丁迎春, 段满益, 令狐荣锋, 祝文军. 过渡金属掺杂ZnO的电子结构和光学性质.
,
2007, 56(6): 3440-3445.
doi: 10.7498/aps.56.3440
|
[19] |
姚 飞, 薛春来, 成步文, 王启明. 重掺B对应变SiGe材料能带结构的影响.
,
2007, 56(11): 6654-6659.
doi: 10.7498/aps.56.6654
|
[20] |
成步文, 姚 飞, 薛春来, 张建国, 李传波, 毛容伟, 左玉华, 罗丽萍, 王启明. 带隙法测定SiGe/Si材料的应变状态.
,
2005, 54(9): 4350-4353.
doi: 10.7498/aps.54.4350
|