[1] |
李桑丫, 张艾霖, 徐欣, 吕涛, 王世康, 罗箐. 基于强流离子源的离子束溅射镀膜设备均匀性优化.
,
2024, 73(5): 058101.
doi: 10.7498/aps.73.20231491
|
[2] |
刘军, 王裴, 孙致远, 张凤国, 何安民. 金属微层裂区气体渗入现象的一种近似理论分析.
,
2021, 70(9): 098301.
doi: 10.7498/aps.70.20201145
|
[3] |
熊振宇, 蔡远文, 吴昊, 刘通, 刘政良, 任元. 环形泵浦激发下微腔激子极化激元的涡旋叠加态演化分析.
,
2021, 70(24): 240304.
doi: 10.7498/aps.70.20210971
|
[4] |
王佐, 刘雁, 张家忠. 过渡区微尺度流动的有效黏性多松弛系数格子Boltzmann模拟.
,
2016, 65(1): 014703.
doi: 10.7498/aps.65.014703
|
[5] |
张连珠, 孟秀兰, 张素, 高书侠, 赵国明. N2微空心阴极放电特性及其阴极溅射的PIC/MC模拟.
,
2013, 62(7): 075201.
doi: 10.7498/aps.62.075201
|
[6] |
文洪燕, 杨杨, 韦联福. 光学微腔中少光子数叠加态的耗散动力学.
,
2012, 61(18): 184206.
doi: 10.7498/aps.61.184206
|
[7] |
仲生仁. 尘埃等离子体中非线性波的叠加效应及稳定性问题.
,
2010, 59(4): 2178-2181.
doi: 10.7498/aps.59.2178
|
[8] |
张耘. 周期性极化铌酸锂的微区拉曼及荧光研究.
,
2010, 59(8): 5528-5532.
doi: 10.7498/aps.59.5528
|
[9] |
谢国锋, 王德武, 应纯同. 考虑溅射损失的RF共振法离子引出和收集.
,
2005, 54(5): 2147-2152.
doi: 10.7498/aps.54.2147
|
[10] |
张东平, 齐红基, 邵建达, 范瑞瑛, 范正修. 离子束溅射法薄膜生长中结瘤微缺陷的生长机理.
,
2005, 54(3): 1385-1389.
doi: 10.7498/aps.54.1385
|
[11] |
刘新福, 孙以材, 张艳辉, 陈志永. 用改进的Rymaszewski公式及方形四探针法测定微区的方块电阻.
,
2004, 53(8): 2461-2466.
doi: 10.7498/aps.53.2461
|
[12] |
张世斌, 廖显伯, 安龙, 杨富华, 孔光临, 王永谦, 徐艳月, 陈长勇, 刁宏伟. 非晶微晶过渡区域硅薄膜的微区喇曼散射研究.
,
2002, 51(8): 1811-1815.
doi: 10.7498/aps.51.1811
|
[13] |
朱红莲, 王德武. 离子引出收集的沉积与溅射研究.
,
2002, 51(6): 1338-1345.
doi: 10.7498/aps.51.1338
|
[14] |
李志锋, 陆 卫, 刘兴权, 沈学础, Y.FU, M.WILLANDER, H.H.TAN, C.JAGADISH. V形GaAs/AlGaAs量子线结构的微区光致发光谱研究.
,
2000, 49(9): 1809-1813.
doi: 10.7498/aps.49.1809
|
[15] |
冯博学, 谢 亮, 王 君, 蒋生蕊, 陈光华. 射频溅射微晶NiOxHy膜电致变色性能及其机理研究.
,
2000, 49(10): 2066-2071.
doi: 10.7498/aps.49.2066
|
[16] |
王冠中, 叶 峰, 常 超, 章应辉, 方容川. 化学气相沉积法制备金刚石膜截面微区Raman分析.
,
1999, 48(12): 2382-2388.
doi: 10.7498/aps.48.2382
|
[17] |
孙以材, 张林在. 用改进的Van der Pauw法测定方形微区的方块电阻.
,
1994, 43(4): 530-539.
doi: 10.7498/aps.43.530
|
[18] |
王震遐, 章骥平, 潘冀生, 陶振兰, 张慧明, 赵烈, 曾跃武, 王承宝, 林祯昌. Al-50wt% Sn合金的离子溅射研究.
,
1992, 41(9): 1554-1559.
doi: 10.7498/aps.41.1554
|
[19] |
邵其鋆, 霍裕昆, 陈建新, 吴士明, 潘正瑛. 离子轰击入射角对溅射参数的影响.
,
1991, 40(4): 659-666.
doi: 10.7498/aps.40.659
|
[20] |
何延才, 黄月鸿, 孙荆, 陈裕三. Monte Carlo模拟计算应用于微区薄膜厚度测定.
,
1982, 31(1): 115-120.
doi: 10.7498/aps.31.115
|