搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

单层硅Si6H4Ph2的稳定性和电子结构密度泛函研究

宋健 李锋 邓开明 肖传云 阚二军 陆瑞锋 吴海平

引用本文:
Citation:

单层硅Si6H4Ph2的稳定性和电子结构密度泛函研究

宋健, 李锋, 邓开明, 肖传云, 阚二军, 陆瑞锋, 吴海平

Density functional study on the stability and electronic structure of single layer Si6H4Ph2

Song Jian, Li Feng, Deng Kai-Ming, Xiao Chuan-Yun, Kan Er-Jun, Lu Rui-Feng, Wu Hai-Ping
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  8759
  • PDF下载量:  762
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2012-04-06
  • 修回日期:  2012-07-15
  • 刊出日期:  2012-12-05

/

返回文章
返回
Baidu
map