[1] |
张梅玲, 陈玉红, 张材荣, 李公平. 内在缺陷与Cu掺杂共存对ZnO电磁光学性质影响的第一性原理研究.
,
2019, 68(8): 087101.
doi: 10.7498/aps.68.20182238
|
[2] |
范达志, 刘贵立, 卫琳. 扭转形变对石墨烯吸附O原子电学和光学性质影响的电子理论研究.
,
2017, 66(24): 246301.
doi: 10.7498/aps.66.246301
|
[3] |
贾相华, 郑友进, 尹龙承, 黄海亮, 姜宏伟, 朱瑞华. 退火温度对Cu:ZnO薄膜绿光发射的影响.
,
2014, 63(16): 166802.
doi: 10.7498/aps.63.166802
|
[4] |
唐欣月, 高红, 潘思明, 孙鉴波, 姚秀伟, 张喜田. 单根In掺杂ZnO纳米带场效应管的电学性质.
,
2014, 63(19): 197302.
doi: 10.7498/aps.63.197302
|
[5] |
王丽师, 徐建萍, 石少波, 张晓松, 任志瑞, 葛林, 李岚. ZnS修饰对ZnO纳米棒:P3HT复合薄膜I-V性质的影响.
,
2013, 62(19): 196103.
doi: 10.7498/aps.62.196103
|
[6] |
唐华杰, 张晋敏, 金浩, 邵飞, 胡维前, 谢泉. 溅射功率对金属锰膜光学性质的影响.
,
2013, 62(24): 247803.
doi: 10.7498/aps.62.247803
|
[7] |
李铭杰, 高红, 李江禄, 温静, 李凯, 张伟光. 低温下单根ZnO纳米带电学性质的研究.
,
2013, 62(18): 187302.
doi: 10.7498/aps.62.187302
|
[8] |
陈先梅, 郜小勇, 张飒, 刘红涛. 醋酸锌热解温度对ZnO纳米棒的结构及光学性质的影响.
,
2013, 62(4): 049102.
doi: 10.7498/aps.62.049102
|
[9] |
宋久旭, 杨银堂, 郭立新, 王平, 张志勇. 反位缺陷对碳化硅纳米管电子结构和光学性质影响研究.
,
2012, 61(23): 237301.
doi: 10.7498/aps.61.237301
|
[10] |
冯现徉, 逯瑶, 蒋雷, 张国莲, 张昌文, 王培吉. In掺杂ZnO超晶格光学性质的研究.
,
2012, 61(5): 057101.
doi: 10.7498/aps.61.057101
|
[11] |
刘建军. 掺Ga对ZnO电子态密度和光学性质的影响.
,
2010, 59(9): 6466-6472.
doi: 10.7498/aps.59.6466
|
[12] |
符秀丽, 唐为华, 彭志坚. 掺杂水平对ZnO基变阻器电学性能的影响.
,
2008, 57(9): 5844-5852.
doi: 10.7498/aps.57.5844
|
[13] |
袁宁一, 何泽军, 赵常宁, 李 峰, 周 懿, 李金华. 纳米ZnO和ZnO-SiO2复合薄膜的光学性质研究.
,
2008, 57(4): 2537-2542.
doi: 10.7498/aps.57.2537
|
[14] |
何开华, 郑 广, 吕 涛, 陈 刚, 姬广富. 高压对氮化硼纳米管的几何结构、电子结构和光学性质的影响.
,
2006, 55(6): 2908-2913.
doi: 10.7498/aps.55.2908
|
[15] |
张锡健, 马洪磊, 王卿璞, 马 瑾, 宗福建, 肖洪地, 计 峰. 退火温度对低温生长MgxZn1-xO薄膜光学性质的影响.
,
2006, 55(1): 437-440.
doi: 10.7498/aps.55.437
|
[16] |
邱勋林, 夏钟福, 王飞鹏. 压力膨化后的热处理温度对PP蜂窝膜驻极体机电性质的影响.
,
2006, 55(5): 2578-2583.
doi: 10.7498/aps.55.2578
|
[17] |
孙成伟, 刘志文, 秦福文, 张庆瑜, 刘 琨, 吴世法. 生长温度对磁控溅射ZnO薄膜的结晶特性和光学性能的影响.
,
2006, 55(3): 1390-1397.
doi: 10.7498/aps.55.1390
|
[18] |
程珊华, 宁兆元, 康 健, 马春兰, 叶 超. 沉积温度对含氢非晶碳膜电学性质的影响.
,
2000, 49(10): 2041-2046.
doi: 10.7498/aps.49.2041
|
[19] |
施宁一. 高压对InSb、InAs电学性质的影响.
,
1961, 17(4): 198-204.
doi: 10.7498/aps.17.198
|
[20] |
唐璞山. 银对氧化亚铜电学性质的影响.
,
1958, 14(5): 423-427.
doi: 10.7498/aps.14.423
|