[1] |
刘远峰, 李斌成, 赵斌兴, 刘红. SiC光学材料亚表面缺陷的光热辐射检测.
,
2023, 72(2): 024208.
doi: 10.7498/aps.72.20221303
|
[2] |
邓旭良, 冀先飞, 王德君, 黄玲琴. 石墨烯过渡层对金属/SiC接触肖特基势垒调控的第一性原理研究.
,
2022, 71(5): 058102.
doi: 10.7498/aps.71.20211796
|
[3] |
于子恒, 马春红, 白少先. SiC表面圆环槽边缘效应实验研究.
,
2021, 70(4): 044702.
doi: 10.7498/aps.70.20201303
|
[4] |
黄毅华, 江东亮, 张辉, 陈忠明, 黄政仁. Al掺杂6H-SiC的磁性研究与理论计算.
,
2017, 66(1): 017501.
doi: 10.7498/aps.66.017501
|
[5] |
曹青松, 邓开明. X@C20F20(X=He,Ne,Ar,Kr)几何结构和 电子结构的理论研究.
,
2016, 65(5): 056102.
doi: 10.7498/aps.65.056102
|
[6] |
卢吴越, 张永平, 陈之战, 程越, 谈嘉慧, 石旺舟. 不同退火方式对Ni/SiC接触界面性质的影响.
,
2015, 64(6): 067303.
doi: 10.7498/aps.64.067303
|
[7] |
张蓓, 保安, 陈楚, 张军. ConCm(n=15; m=1,2)团簇的密度泛函理论研究.
,
2012, 61(15): 153601.
doi: 10.7498/aps.61.153601
|
[8] |
袁健美, 郝文平, 李顺辉, 毛宇亮. Ni(111)表面C原子吸附的密度泛函研究.
,
2012, 61(8): 087301.
doi: 10.7498/aps.61.087301
|
[9] |
唐春梅, 郭微, 朱卫华, 刘明熠, 张爱梅, 巩江峰, 王辉. 内掺过渡金属非典型富勒烯M@C22(M=Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni) 几何结构、电子结构、稳定性和磁性的密度泛函研究.
,
2012, 61(2): 026101.
doi: 10.7498/aps.61.026101
|
[10] |
宋坤, 柴常春, 杨银堂, 张现军, 陈斌. 栅漏间表面外延层对4H-SiC功率MESFET击穿特性的改善机理与结构优化.
,
2012, 61(2): 027202.
doi: 10.7498/aps.61.027202
|
[11] |
曹青松, 袁勇波, 肖传云, 陆瑞锋, 阚二军, 邓开明. C80H80几何结构和电子性质的密度泛函研究.
,
2012, 61(10): 106101.
doi: 10.7498/aps.61.106101
|
[12] |
张秀荣, 吴礼清, 饶倩. (OsnN)0,(n=16)团簇电子结构与光谱性质的理论研究.
,
2011, 60(8): 083601.
doi: 10.7498/aps.60.083601
|
[13] |
贺平逆, 吕晓丹, 赵成利, 宁建平, 秦尤敏, 苟富均. F原子与SiC(100)表面相互作用的分子动力学模拟.
,
2011, 60(9): 095203.
doi: 10.7498/aps.60.095203
|
[14] |
张秀荣, 高从花, 吴礼清, 唐会帅. WnNim(n+m≤7; m=1, 2)团簇电子结构与光谱性质的理论研究.
,
2010, 59(8): 5429-5438.
doi: 10.7498/aps.59.5429
|
[15] |
张云, 邵晓红, 王治强. 3C-SiC材料p型掺杂的第一性原理研究.
,
2010, 59(8): 5652-5660.
doi: 10.7498/aps.59.5652
|
[16] |
陈亮, 徐灿, 张小芳. 氧化镁纳米管团簇电子结构的密度泛函研究.
,
2009, 58(3): 1603-1607.
doi: 10.7498/aps.58.1603
|
[17] |
马格林, 张玉明, 张义门, 马仲发. SiC表面C 1s谱最优拟合参数的研究.
,
2008, 57(7): 4125-4129.
doi: 10.7498/aps.57.4125
|
[18] |
马格林, 张玉明, 张义门, 马仲发. SiC外延层表面化学态的研究.
,
2008, 57(7): 4119-4124.
doi: 10.7498/aps.57.4119
|
[19] |
郜锦侠, 张义门, 汤晓燕, 张玉明. C-V法提取SiC隐埋沟道MOSFET沟道载流子浓度.
,
2006, 55(6): 2992-2996.
doi: 10.7498/aps.55.2992
|
[20] |
尚也淳, 刘忠立, 王姝睿. SiC Schottky结反向特性的研究.
,
2003, 52(1): 211-216.
doi: 10.7498/aps.52.211
|