| [1] |
李强, 陈硕, 刘可可, 鲁志强, 胡芹, 冯利萍, 张清杰, 吴劲松, 苏贤礼, 唐新峰. n型Bi2Te3基化合物的类施主效应和热电性能.
,
2023, 72(9): 097101.
doi: 10.7498/aps.72.20230231
|
| [2] |
唐昊, 白辉, 吕嘉南, 华思恒, 鄢永高, 杨东旺, 吴劲松, 苏贤礼, 唐新峰. 表面修饰工程协同优化Bi2Te3基微型热电器件的界面性能.
,
2022, 71(16): 167101.
doi: 10.7498/aps.71.20220549
|
| [3] |
孙海明. Bi2Te3(111)和Al2O3(0001)衬底对Bi(111)双原子层的电子结构及拓扑性质的影响.
,
2022, 71(13): 137101.
doi: 10.7498/aps.71.20220060
|
| [4] |
陈赟斐, 魏锋, 王赫, 赵未昀, 邓元. 高性能Bi2Te3–xSex热电薄膜的可控生长.
,
2021, 70(20): 207303.
doi: 10.7498/aps.70.20211090
|
| [5] |
张帆, 许涌, 柳洋, 程厚义, 张晓强, 杜寅昌, 吴晓君, 赵巍胜. 磁控溅射法生长Bi2Te3/CoFeB双层异质结太赫兹发射.
,
2020, 69(20): 200705.
doi: 10.7498/aps.69.20200634
|
| [6] |
吴芳, 王伟. 高压烧结法制备Bi2Te3纳米晶块体热电性能的研究.
,
2015, 64(4): 047201.
doi: 10.7498/aps.64.047201
|
| [7] |
李平原, 陈永亮, 周大进, 陈鹏, 张勇, 邓水全, 崔雅静, 赵勇. 拓扑绝缘体Bi2Te3的热膨胀系数研究.
,
2014, 63(11): 117301.
doi: 10.7498/aps.63.117301
|
| [8] |
丁玥, 沈洁, 庞远, 刘广同, 樊洁, 姬忠庆, 杨昌黎, 吕力. Bi2Te3拓扑绝缘体表面颗粒化铅膜诱导的超导邻近效应.
,
2013, 62(16): 167401.
doi: 10.7498/aps.62.167401
|
| [9] |
王淑芳, 陈珊珊, 陈景春, 闫国英, 乔小齐, 刘富强, 王江龙, 丁学成, 傅广生. 脉冲激光沉积温度及氧压对Bi2Sr2Co2Oy热电薄膜晶体结构与电输运性能的影响.
,
2012, 61(6): 066804.
doi: 10.7498/aps.61.066804
|
| [10] |
吕业刚, 梁晓琳, 谭永宏, 郑学军, 龚跃球, 何林. 微结构对Eu掺杂Bi4Ti3O12铁电薄膜铁电性能的影响.
,
2011, 60(2): 027701.
doi: 10.7498/aps.60.027701
|
| [11] |
范平, 蔡兆坤, 郑壮豪, 张东平, 蔡兴民, 陈天宝. Bi-Sb-Te基热电薄膜温差电池离子束溅射制备与表征.
,
2011, 60(9): 098402.
doi: 10.7498/aps.60.098402
|
| [12] |
蒋明波, 吴智雄, 周敏, 黄荣进, 李来风. Bi2Te3 合金低温热电性能及冷能发电研究.
,
2010, 59(10): 7314-7319.
doi: 10.7498/aps.59.7314
|
| [13] |
穆武第, 程海峰, 陈朝辉, 唐耿平, 吴志桥. 粗糙界面对Bi2Te3/PbTe超晶格热电优值影响的理论分析.
,
2009, 58(2): 1212-1218.
doi: 10.7498/aps.58.1212
|
| [14] |
谭丛兵, 钟向丽, 王金斌, 廖 敏, 周益春, 潘 伟. Nd掺杂对Bi4Ti3O12铁电薄膜的微结构和铁电性能的影响.
,
2007, 56(10): 6084-6089.
doi: 10.7498/aps.56.6084
|
| [15] |
胡建民, 信江波, 吕 强, 王月媛, 荣剑英. (Sb2Te3)0.75(1－x)(Bi2Te3)0.25(1－x)(Sb2Se3)x机械合金化粉体的制备及其冷压烧结样品的热电性能研究.
,
2006, 55(9): 4843-4848.
doi: 10.7498/aps.55.4843
|
| [16] |
蒋 俊, 许高杰, 崔 平, 陈立东. TeI4掺杂量对n型Bi2Te3基烧结材料热电性能的影响.
,
2006, 55(9): 4849-4853.
doi: 10.7498/aps.55.4849
|
| [17] |
羌 锋, 朱 骏, 毛翔宇, 陈小兵. Dy掺杂对Sr2Bi4Ti5O18铁电陶瓷性能的影响.
,
2005, 54(11): 5422-5427.
doi: 10.7498/aps.54.5422
|
| [18] |
吕 强, 荣剑英, 赵 磊, 张红晨, 胡建民, 信江波. 热压工艺参数对n型和p型Bi2Te3基赝三元热电材料电学性能的影响.
,
2005, 54(7): 3321-3326.
doi: 10.7498/aps.54.3321
|
| [19] |
初宝进, 李国荣, 殷庆瑞, 张望重, 陈大任. 非化学计量和掺杂对(Na1/2Bi1/2)0.92Ba0.08TiO3陶瓷电性能的影响.
,
2001, 50(10): 2012-2016.
doi: 10.7498/aps.50.2012
|
| [20] |
董正超. 正常金属-d波超导隧道结中杂质和界面散射对微分电导的影响.
,
1999, 48(5): 926-935.
doi: 10.7498/aps.48.926
|
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