搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

更正: 基于55 nm DICE结构的单粒子翻转效应模拟研究[ 2024, 73(6): 066103]

张幸 刘玉林 李刚 燕少安 肖永光 唐明华

引用本文:
Citation:

更正: 基于55 nm DICE结构的单粒子翻转效应模拟研究[ 2024, 73(6): 066103]

张幸, 刘玉林, 李刚, 燕少安, 肖永光, 唐明华

Erratum: Three-dimensional numerical simulation of single event upset effect based on 55 nm DICE latch unit[Acta Phys. Sin. 2024, 73(6): 066103]

Zhang Xing, Liu Yu-Lin, Li Gang, Yan Shao-An, Xiao Yong-Guang, Tang Ming-Hua
PDF
HTML
导出引用
计量
  • 文章访问数:  1216
  • PDF下载量:  25
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2024-04-01
  • 上网日期:  2024-04-09
  • 刊出日期:  2024-04-05

/

返回文章
返回
Baidu
map