[1] |
王帅, 葛晨, 徐祖银, 成爱强, 陈敦军. 微波GaN器件温度效应建模.
,
2024, 73(17): 177101.
doi: 10.7498/aps.73.20240765
|
[2] |
武鹏, 李若晗, 张涛, 张进成, 郝跃. AlGaN/GaN肖特基二极管阳极后退火界面态修复技术.
,
2023, 72(19): 198501.
doi: 10.7498/aps.72.20230553
|
[3] |
郝蕊静, 郭红霞, 潘霄宇, 吕玲, 雷志锋, 李波, 钟向丽, 欧阳晓平, 董世剑. AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管器件中子位移损伤效应及机理.
,
2020, 69(20): 207301.
doi: 10.7498/aps.69.20200714
|
[4] |
董世剑, 郭红霞, 马武英, 吕玲, 潘霄宇, 雷志锋, 岳少忠, 郝蕊静, 琚安安, 钟向丽, 欧阳晓平. AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管器件电离辐照损伤机理及偏置相关性研究.
,
2020, 69(7): 078501.
doi: 10.7498/aps.69.20191557
|
[5] |
刘静, 王琳倩, 黄忠孝. 基于凹槽结构抑制AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管电流崩塌效应.
,
2019, 68(24): 248501.
doi: 10.7498/aps.68.20191311
|
[6] |
唐文昕, 郝荣晖, 陈扶, 于国浩, 张宝顺. 1000 V p-GaN混合阳极AlGaN/GaN二极管.
,
2018, 67(19): 198501.
doi: 10.7498/aps.67.20181208
|
[7] |
张力, 林志宇, 罗俊, 王树龙, 张进成, 郝跃, 戴扬, 陈大正, 郭立新. 具有p-GaN岛状埋层耐压结构的横向AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管.
,
2017, 66(24): 247302.
doi: 10.7498/aps.66.247302
|
[8] |
袁嵩, 段宝兴, 袁小宁, 马建冲, 李春来, 曹震, 郭海军, 杨银堂. 阶梯AlGaN外延新型Al0.25Ga0.75N/GaNHEMTs器件实验研究.
,
2015, 64(23): 237302.
doi: 10.7498/aps.64.237302
|
[9] |
朱彦旭, 曹伟伟, 徐晨, 邓叶, 邹德恕. GaN HEMT欧姆接触模式对电学特性的影响.
,
2014, 63(11): 117302.
doi: 10.7498/aps.63.117302
|
[10] |
段宝兴, 杨银堂. 阶梯AlGaN外延新型Al0.25Ga0.75N/GaN HEMTs击穿特性分析.
,
2014, 63(5): 057302.
doi: 10.7498/aps.63.057302
|
[11] |
任舰, 闫大为, 顾晓峰. AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管漏电流退化机理研究.
,
2013, 62(15): 157202.
doi: 10.7498/aps.62.157202
|
[12] |
段宝兴, 杨银堂, 陈敬. F离子注入新型Al0.25Ga0.75 N/GaN HEMT 器件耐压分析.
,
2012, 61(22): 227302.
doi: 10.7498/aps.61.227302
|
[13] |
段宝兴, 杨银堂, Kevin J. Chen. 新型Si3N4层部分固定正电荷AlGaN/GaN HEMTs器件耐压分析.
,
2012, 61(24): 247302.
doi: 10.7498/aps.61.247302
|
[14] |
马骥刚, 马晓华, 张会龙, 曹梦逸, 张凯, 李文雯, 郭星, 廖雪阳, 陈伟伟, 郝跃. AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中kink效应的半经验模型.
,
2012, 61(4): 047301.
doi: 10.7498/aps.61.047301
|
[15] |
王冲, 全思, 马晓华, 郝跃, 张进城, 毛维. 增强型AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管高温退火研究.
,
2010, 59(10): 7333-7337.
doi: 10.7498/aps.59.7333
|
[16] |
王冲, 全思, 张金凤, 郝跃, 冯倩, 陈军峰. AlGaN/GaN槽栅HEMT模拟与实验研究.
,
2009, 58(3): 1966-1970.
doi: 10.7498/aps.58.1966
|
[17] |
刘林杰, 岳远征, 张进城, 马晓华, 董作典, 郝跃. Al2O3绝缘栅AlGaN/GaN MOS-HEMT器件温度特性研究.
,
2009, 58(1): 536-540.
doi: 10.7498/aps.58.536
|
[18] |
魏 巍, 郝 跃, 冯 倩, 张进城, 张金凤. AlGaN/GaN场板结构高电子迁移率晶体管的场板尺寸优化分析.
,
2008, 57(4): 2456-2461.
doi: 10.7498/aps.57.2456
|
[19] |
郭亮良, 冯 倩, 郝 跃, 杨 燕. 高击穿电压的AlGaN/GaN FP-HEMT研究与分析.
,
2007, 56(5): 2895-2899.
doi: 10.7498/aps.56.2895
|
[20] |
王 冲, 冯 倩, 郝 跃, 万 辉. AlGaN/GaN异质结Ni/Au肖特基表面处理及退火研究.
,
2006, 55(11): 6085-6089.
doi: 10.7498/aps.55.6085
|