[1] |
李俊炜, 贾维敏, 吕沙沙, 魏雅璇, 李正操, 王金涛. 氢气在γ-U (100) /Mo表面吸附行为的第一性原理研究.
,
2022, 71(22): 226601.
doi: 10.7498/aps.71.20220631
|
[2] |
李瑞豪, 刘俊扬, 洪文晶. 单分子器件电输运中基于量子干涉效应的调控策略.
,
2022, 71(6): 067303.
doi: 10.7498/aps.71.20211819
|
[3] |
李瑞豪, 刘俊扬, 洪文晶. 单分子器件电输运中基于量子干涉效应的调控策略.
,
2021, (): .
doi: 10.7498/aps.70.20211819
|
[4] |
俎凤霞, 张盼盼, 熊伦, 殷勇, 刘敏敏, 高国营. 以石墨烯为电极的有机噻吩分子整流器的设计及电输运特性研究.
,
2017, 66(9): 098501.
doi: 10.7498/aps.66.098501
|
[5] |
付佳, 樊群超, 孙卫国, 胡石, 江永红. VN分子R线系跃迁结构的研究与分析.
,
2013, 62(23): 233301.
doi: 10.7498/aps.62.233301
|
[6] |
李英德, 李宗良, 冷建材, 李伟, 王传奎. 光致异构体开关特性的理论研究.
,
2011, 60(7): 073101.
doi: 10.7498/aps.60.073101
|
[7] |
张 辉, 张国英, 何君琦, 王 丹, 杨 爽. 杂质对吸附系统O/RhxPt1-x衬底合金(110)表面偏析的影响.
,
2008, 57(3): 1846-1850.
doi: 10.7498/aps.57.1846
|
[8] |
夏蔡娟, 房常峰, 胡贵超, 李冬梅, 刘德胜, 解士杰, 赵明文. 官能团对分子器件电输运特性的影响.
,
2008, 57(5): 3148-3154.
doi: 10.7498/aps.57.3148
|
[9] |
刘以良, 孔凡杰, 杨缤维, 蒋 刚. 金刚石延(111)面生长的第一性原理研究.
,
2007, 56(9): 5413-5417.
doi: 10.7498/aps.56.5413
|
[10] |
夏蔡娟, 房常峰, 胡贵超, 李冬梅, 刘德胜, 解士杰. 分子的位置取向对分子器件电输运特性的影响.
,
2007, 56(8): 4884-4890.
doi: 10.7498/aps.56.4884
|
[11] |
唐元洪, 林良武, 郭 池. 多壁碳纳米管束储氢机理的X射线吸收谱研究.
,
2006, 55(8): 4197-4201.
doi: 10.7498/aps.55.4197
|
[12] |
马 勇, 邹 斌, 李宗良, 王传奎, 罗 毅. 六元杂环分子电学特性的理论研究.
,
2006, 55(4): 1974-1978.
doi: 10.7498/aps.55.1974
|
[13] |
李英德. 分子结电学特性的理论研究.
,
2006, 55(6): 2997-3002.
doi: 10.7498/aps.55.2997
|
[14] |
李桂琴, 邓景康, 李 彬, 任雪光, 宁传刚, 张书锋, 苏国林. 丁酮分子内价轨道1a″的电子动量谱学研究.
,
2005, 54(10): 4669-4672.
doi: 10.7498/aps.54.4669
|
[15] |
张 辉, 张国英, 王瑞丹, 周永军, 李 星. 无序二元合金(NixCu1-x)不同解理面上O吸附对Cu偏析的影响.
,
2005, 54(11): 5356-5361.
doi: 10.7498/aps.54.5356
|
[16] |
邹 斌, 李宗良, 王传奎, 薛其坤. 电极距离对分子器件电输运特性的影响.
,
2005, 54(3): 1341-1346.
doi: 10.7498/aps.54.1341
|
[17] |
张 辉, 张国英, 李 星, 刘士阳. 无序二元合金(NixCu1-x)表面CO吸附及对表面偏析的影响.
,
2004, 53(9): 3152-3156.
doi: 10.7498/aps.53.3152
|
[18] |
李英德, 李红海, 王传奎. 分子线的电子输运特性.
,
2002, 51(10): 2349-2354.
doi: 10.7498/aps.51.2349
|
[19] |
吴钺, 曹培林, 陈芸琪, 郑德娟. 用Xα-DV方法研究CO,NO在Ⅷ族过渡金属表面的化学吸附(Ⅱ)——NO分子在Pd(111)表面的化学吸附.
,
1985, 34(10): 1306-1314.
doi: 10.7498/aps.34.1306
|
[20] |
张一民. 固体电子学的发展概况.
,
1960, 16(8): 431-440.
doi: 10.7498/aps.16.431
|