[1] |
李裕, 罗江山, 王柱, 杨蒙生, 邢丕峰, 易勇, 雷海乐. 铝纳米晶的正电子湮没研究.
,
2014, 63(24): 247803.
doi: 10.7498/aps.63.247803
|
[2] |
黄世娟, 张文帅, 刘建党, 张杰, 李骏, 叶邦角. 完美晶体中正电子体寿命计算的几种方法的分析与比较.
,
2014, 63(21): 217804.
doi: 10.7498/aps.63.217804
|
[3] |
许红霞, 郝颖萍, 韩荣典, 翁惠民, 杜淮江, 叶邦角. 纳米Fe3 O4 颗粒的正电子湮没谱学研究.
,
2011, 60(6): 067803.
doi: 10.7498/aps.60.067803
|
[4] |
祁宁, 王元为, 王栋, 王丹丹, 陈志权. Co掺杂纳米ZnO微结构的正电子湮没研究.
,
2011, 60(10): 107805.
doi: 10.7498/aps.60.107805
|
[5] |
周凯, 李辉, 王柱. 正电子湮没谱和光致发光谱研究掺锌GaSb质子辐照缺陷.
,
2010, 59(7): 5116-5121.
doi: 10.7498/aps.59.5116
|
[6] |
张杰, 陈祥磊, 郝颖萍, 叶邦角, 杜淮江. 闪锌矿结构晶体的正电子体寿命计算.
,
2010, 59(8): 5828-5832.
doi: 10.7498/aps.59.5828
|
[7] |
郝颖萍, 陈祥磊, 成斌, 孔伟, 许红霞, 杜淮江, 叶邦角. SmFeAsO材料的正电子寿命研究.
,
2010, 59(4): 2789-2794.
doi: 10.7498/aps.59.2789
|
[8] |
魏 强, 刘 海, 何世禹, 郝小鹏, 魏 龙. 质子辐照铝膜反射镜的慢正电子湮没研究.
,
2006, 55(10): 5525-5530.
doi: 10.7498/aps.55.5525
|
[9] |
吴世亮, 陈叶清, 吴奕初, 王少阶, 温熙宇, 翟同广. AA 2037新型连铸铝合金热轧板退火的正电子湮没研究.
,
2006, 55(11): 6129-6135.
doi: 10.7498/aps.55.6129
|
[10] |
李丽君, 王作新, 吴锦雷. Hg1-xCdxTe晶体缺陷的正电子湮没寿命.
,
1998, 47(5): 844-850.
doi: 10.7498/aps.47.844
|
[11] |
刘峰奇, 刘军政, 曹世勋, 程国生, 张金仓. YBa2Cu3O7-δ超导体氧缺陷的正电子寿命谱.
,
1995, 44(6): 929-935.
doi: 10.7498/aps.44.929
|
[12] |
彭郁卿, 王涛, 周诗瑶, 卜为, 张立德. 钠米材料Fe2O3微结构的正电子寿命谱学研究.
,
1994, 43(7): 1208-1216.
doi: 10.7498/aps.43.1208
|
[13] |
马建国, 郭应焕, 王蕴玉. 正电子湮没寿命谱分析的快速傅里叶变换解法.
,
1994, 43(4): 547-554.
doi: 10.7498/aps.43.547
|
[14] |
. 用正电子湮没寿命谱研究凝聚态甲烷的温度关系.
,
1990, 39(7): 106-111.
doi: 10.7498/aps.39.106
|
[15] |
王蕴玉, 潘孝良, 雷振玺, 杨巨华. 用正电子湮没方法研究快离子导体.
,
1987, 36(4): 514-517.
doi: 10.7498/aps.36.514
|
[16] |
苏昉, 郁伟中, 戴道扬, 赵宗源. 非晶离子导体B2O3-0.7Li2O-0.7LiCl-xAl2O3晶化过程的正电子湮没寿命谱和扫描电子显微镜研究.
,
1985, 34(5): 622-627.
doi: 10.7498/aps.34.622
|
[17] |
唐景昌, 唐叔贤. 光电子衍射谱Fourier变换分析方法的垂直单电子束模型.
,
1984, 33(3): 362-369.
doi: 10.7498/aps.33.362
|
[18] |
何元金, 李龙土. PbZrO3-PbTiO3系压电陶瓷极化效应的正电子湮没研究.
,
1983, 32(6): 697-704.
doi: 10.7498/aps.32.697
|
[19] |
王蕴玉, 张天保, 唐孝威. 正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量.
,
1982, 31(7): 945-947.
doi: 10.7498/aps.31.945
|
[20] |
曹玔, 王蕴玉, 熊兴民, 熊良钺, 姜健. 用正电子湮没技术研究形变铁的恢复.
,
1982, 31(1): 126-131.
doi: 10.7498/aps.31.126
|