| [1] |
赵明亮, 陈松, 孙峰, 张晶, 林燕, 张伟儒, 王卫国. Si3N4陶瓷材料晶界特征分布研究.
,
2021, 70(22): 226801.
doi: 10.7498/aps.70.20210233
|
| [2] |
代月花, 金波, 汪家余, 陈真, 李宁, 蒋先伟, 卢文娟, 李晓风. 改善Si3N4俘获层过擦现象的第一性原理研究.
,
2015, 64(13): 133102.
doi: 10.7498/aps.64.133102
|
| [3] |
程超群, 李刚, 张文栋, 李朋伟, 胡杰, 桑胜波, 邓霄. B, P掺杂β-Si3N4的电子结构和光学性质研究.
,
2015, 64(6): 067102.
doi: 10.7498/aps.64.067102
|
| [4] |
李玮聪, 邹志强, 王丹, 石高明. 锰的硅化物薄膜在Si(100)-21表面生长的STM研究.
,
2012, 61(6): 066801.
doi: 10.7498/aps.61.066801
|
| [5] |
余本海, 陈东. α-, β-和γ-Si3N4 高压下的电子结构和相变: 第一性原理研究.
,
2012, 61(19): 197102.
doi: 10.7498/aps.61.197102
|
| [6] |
乌晓燕, 孔明, 李戈扬, 赵文济. Si3N4在h-AlN上的晶体化与AlN/Si3N4纳米多层膜的超硬效应.
,
2009, 58(4): 2654-2659.
doi: 10.7498/aps.58.2654
|
| [7] |
喻利花, 董松涛, 董师润, 许俊华. AlN/Si3N4纳米多层膜的外延生长与力学性能.
,
2008, 57(8): 5151-5158.
doi: 10.7498/aps.57.5151
|
| [8] |
朱应涛, 杨传路, 王美山, 董永绵. β-Si3N4电子结构和红外和拉曼频率的第一性原理研究.
,
2008, 57(2): 1048-1053.
doi: 10.7498/aps.57.1048
|
| [9] |
唐立丹, 张 跃. NH3气氛处理制备p型ZnO薄膜及性能表征.
,
2008, 57(2): 1145-1149.
doi: 10.7498/aps.57.1145
|
| [10] |
丁迎春, 向安平, 徐 明, 祝文军. 掺稀土元素(Y，La)的γ-Si3N4的电子结构和光学性质.
,
2007, 56(10): 5996-6002.
doi: 10.7498/aps.56.5996
|
| [11] |
赵文济, 董云杉, 岳建岭, 李戈扬. Si3N4的晶体化和ZrN/Si3N4纳米多层膜的超硬效应.
,
2007, 56(1): 459-464.
doi: 10.7498/aps.56.459
|
| [12] |
丁迎春, 徐 明, 潘洪哲, 沈益斌, 祝文军, 贺红亮. γ-Si3N4在高压下的电子结构和物理性质研究.
,
2007, 56(1): 117-122.
doi: 10.7498/aps.56.117
|
| [13] |
潘洪哲, 徐 明, 祝文军, 周海平. β-Si3N4电子结构和光学性质的第一性原理研究.
,
2006, 55(7): 3585-3589.
doi: 10.7498/aps.55.3585
|
| [14] |
张晓青, G.M.SESSLER, 夏钟福, 张冶文. Si基Si3N4/SiO2双层膜驻极体的电荷储存与输运.
,
2001, 50(2): 293-298.
doi: 10.7498/aps.50.293
|
| [15] |
汪雷, 唐景昌, 王学森. Si3N4/Si表面Si生长过程的扫描隧道显微镜研究.
,
2001, 50(3): 517-522.
doi: 10.7498/aps.50.517
|
| [16] |
陈俊芳, 吴先球, 王德秋, 丁振峰, 任兆杏. ECR-PECVD制备Si3N4薄膜沉积工艺的研究.
,
1999, 48(7): 1309-1314.
doi: 10.7498/aps.48.1309
|
| [17] |
段玉华, 张开明, 谢希德. β-C3N4,β-Si3N4和β-Ge3N4的能带结构.
,
1996, 45(3): 512-517.
doi: 10.7498/aps.45.512
|
| [18] |
胡长武, 俞立民, 徐颖, 朱昂如, 王兆永. NH3在Cu及其氧化表面物理吸附的光声振动谱研究.
,
1992, 41(7): 1119-1124.
doi: 10.7498/aps.41.1119
|
| [19] |
齐鸣, 罗晋生. NH3退火热氮化SiO2薄膜及其与Si界面特性的研究.
,
1988, 37(10): 1600-1606.
doi: 10.7498/aps.37.1600
|
| [20] |
温树林, 冯景伟. 高分辨电子显微镜研究α-Si3N4晶格缺陷.
,
1985, 34(7): 951-955.
doi: 10.7498/aps.34.951
|
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