[1] |
赵明亮, 陈松, 孙峰, 张晶, 林燕, 张伟儒, 王卫国. Si3N4陶瓷材料晶界特征分布研究.
,
2021, 70(22): 226801.
doi: 10.7498/aps.70.20210233
|
[2] |
汪静丽, 陈子玉, 陈鹤鸣. 基于Si3N4/SiNx/Si3N4三明治结构的偏振无关1 × 2多模干涉型解复用器的设计.
,
2020, 69(5): 054206.
doi: 10.7498/aps.69.20191449
|
[3] |
程超群, 李刚, 张文栋, 李朋伟, 胡杰, 桑胜波, 邓霄. B, P掺杂β-Si3N4的电子结构和光学性质研究.
,
2015, 64(6): 067102.
doi: 10.7498/aps.64.067102
|
[4] |
段宝兴, 杨银堂, Kevin J. Chen. 新型Si3N4层部分固定正电荷AlGaN/GaN HEMTs器件耐压分析.
,
2012, 61(24): 247302.
doi: 10.7498/aps.61.247302
|
[5] |
余本海, 陈东. α-, β-和γ-Si3N4 高压下的电子结构和相变: 第一性原理研究.
,
2012, 61(19): 197102.
doi: 10.7498/aps.61.197102
|
[6] |
乌晓燕, 孔明, 李戈扬, 赵文济. Si3N4在h-AlN上的晶体化与AlN/Si3N4纳米多层膜的超硬效应.
,
2009, 58(4): 2654-2659.
doi: 10.7498/aps.58.2654
|
[7] |
喻利花, 董松涛, 董师润, 许俊华. AlN/Si3N4纳米多层膜的外延生长与力学性能.
,
2008, 57(8): 5151-5158.
doi: 10.7498/aps.57.5151
|
[8] |
朱应涛, 杨传路, 王美山, 董永绵. β-Si3N4电子结构和红外和拉曼频率的第一性原理研究.
,
2008, 57(2): 1048-1053.
doi: 10.7498/aps.57.1048
|
[9] |
丁迎春, 徐 明, 潘洪哲, 沈益斌, 祝文军, 贺红亮. γ-Si3N4在高压下的电子结构和物理性质研究.
,
2007, 56(1): 117-122.
doi: 10.7498/aps.56.117
|
[10] |
丁迎春, 向安平, 徐 明, 祝文军. 掺稀土元素(Y,La)的γ-Si3N4的电子结构和光学性质.
,
2007, 56(10): 5996-6002.
doi: 10.7498/aps.56.5996
|
[11] |
赵文济, 董云杉, 岳建岭, 李戈扬. Si3N4的晶体化和ZrN/Si3N4纳米多层膜的超硬效应.
,
2007, 56(1): 459-464.
doi: 10.7498/aps.56.459
|
[12] |
潘洪哲, 徐 明, 祝文军, 周海平. β-Si3N4电子结构和光学性质的第一性原理研究.
,
2006, 55(7): 3585-3589.
doi: 10.7498/aps.55.3585
|
[13] |
张晓青, G.M.SESSLER, 夏钟福, 张冶文. Si基Si3N4/SiO2双层膜驻极体的电荷储存与输运.
,
2001, 50(2): 293-298.
doi: 10.7498/aps.50.293
|
[14] |
汪雷, 唐景昌, 王学森. Si3N4/Si表面Si生长过程的扫描隧道显微镜研究.
,
2001, 50(3): 517-522.
doi: 10.7498/aps.50.517
|
[15] |
张永平, 顾有松, 高鸿钧, 张秀芳. 微波等离子体化学气相沉积法制备C3N4薄膜的结构研究.
,
2001, 50(7): 1396-1400.
doi: 10.7498/aps.50.1396
|
[16] |
翟光杰, 杨建树, 陈显邦, 王学森. Si(111)表面在NH3气氛下形成Si3N4薄膜的STM研究.
,
2000, 49(2): 215-219.
doi: 10.7498/aps.49.215
|
[17] |
陈俊芳, 吴先球, 王德秋, 丁振峰, 任兆杏. ECR-PECVD制备Si3N4薄膜沉积工艺的研究.
,
1999, 48(7): 1309-1314.
doi: 10.7498/aps.48.1309
|
[18] |
吴大维, 付德君, 毛先唯, 叶明生, 彭友贵, 范湘军. C3N4/TiN交替复合膜的微结构研究.
,
1999, 48(5): 904-912.
doi: 10.7498/aps.48.904
|
[19] |
吴大维, 何孟兵, 郭怀喜, 罗海林, 张志宏, 傅德君, 范湘军. C3N4薄膜的结构与性能研究.
,
1997, 46(3): 530-535.
doi: 10.7498/aps.46.530
|
[20] |
温树林, 冯景伟. 高分辨电子显微镜研究α-Si3N4晶格缺陷.
,
1985, 34(7): 951-955.
doi: 10.7498/aps.34.951
|