[1] |
袁永腾, 涂绍勇, 尹传盛, 李纪伟, 戴振生, 杨正华, 侯立飞, 詹夏宇, 晏骥, 董云松, 蒲昱东, 邹士阳, 杨家敏, 缪文勇. 冲击波波后辐射效应对Richtmyer-Meshkov不稳定性增长影响的实验研究.
,
2021, 70(20): 205203.
doi: 10.7498/aps.70.20210653
|
[2] |
汤华莲, 许蓓蕾, 庄奕琪, 张丽, 李聪. 工艺偏差下PMOS器件的负偏置温度不稳定效应分布特性.
,
2016, 65(16): 168502.
doi: 10.7498/aps.65.168502
|
[3] |
张月, 卓青青, 刘红侠, 马晓华, 郝跃. 功率MOSFET的负偏置温度不稳定性效应中的平衡现象.
,
2013, 62(16): 167305.
doi: 10.7498/aps.62.167305
|
[4] |
杨秀峰, 刘谋斌. 光滑粒子动力学SPH方法应力不稳定性的一种改进方案.
,
2012, 61(22): 224701.
doi: 10.7498/aps.61.224701
|
[5] |
曹建民, 贺威, 黄思文, 张旭琳. pMOS器件直流应力负偏置温度不稳定性效应随器件基本参数变化的分析.
,
2012, 61(21): 217305.
doi: 10.7498/aps.61.217305
|
[6] |
周恒为, 王丽娜, 郭秀珍, 吴娜娜, 张丽, 张晋鲁, 黄以能. 邻苯二甲酸二甲酯晶体中裂纹愈合效应的力学谱研究.
,
2010, 59(3): 2120-2125.
doi: 10.7498/aps.59.2120
|
[7] |
郭秀珍, 周恒为, 张丽丽, 吴文惠, 张晋鲁, 黄以能. 邻苯二甲酸二酯系玻璃材料中裂纹愈合效应研究.
,
2010, 59(1): 417-421.
doi: 10.7498/aps.59.417
|
[8] |
王立锋, 滕爱萍, 叶文华, 范征锋, 陶烨晟, 林传栋, 李英骏. 超声速流体Kelvin-Helmholtz不稳定性速度梯度效应研究.
,
2009, 58(12): 8426-8431.
doi: 10.7498/aps.58.8426
|
[9] |
萨 宁, 康晋锋, 杨 红, 刘晓彦, 张 兴, 韩汝琦. 具有HfN/HfO2栅结构的p型MOSFET中的负偏置-温度不稳定性研究.
,
2006, 55(3): 1419-1423.
doi: 10.7498/aps.55.1419
|
[10] |
简广德, 董家齐. 环形等离子体中电子温度梯度不稳定性的粒子模拟.
,
2003, 52(7): 1656-1662.
doi: 10.7498/aps.52.1656
|
[11] |
李文飞, 张丰收. 非对称核物质的化学不稳定性与力学不稳定性.
,
2001, 50(10): 1888-1895.
doi: 10.7498/aps.50.1888
|
[12] |
李文飞, 张丰收, 陈列文. 化学不稳定性和同位素分布的同位旋效应.
,
2001, 50(6): 1040-1045.
doi: 10.7498/aps.50.1040
|
[13] |
任红霞, 郝 跃. 新型槽栅PMOSFET热载流子退化机理与抗热载流子效应研究.
,
2000, 49(9): 1683-1688.
doi: 10.7498/aps.49.1683
|
[14] |
贺凯芬. 负能模式在非线性不稳定性中的作用再探.
,
1996, 45(1): 1-12.
doi: 10.7498/aps.45.1
|
[15] |
贺凯芬, 胡岗. 负能模式在驱动漂移波非线性不稳定性中的作用(Ⅰ)——向正能模式的转变和双稳态.
,
1993, 42(7): 1035-1041.
doi: 10.7498/aps.42.1035
|
[16] |
吕曼祺, A. WAGENDRISTEL. 非晶Nd-Fe薄膜电阻的温度效应与非晶稳定性.
,
1993, 42(5): 840-846.
doi: 10.7498/aps.42.840
|
[17] |
王心宜, 林磊. 向列相液晶电流体不稳定性——偏置电场效应.
,
1983, 32(12): 1565-1573.
doi: 10.7498/aps.32.1565
|
[18] |
郭世宠, 沈解伍, 陈骝, 蔡诗东. 离子温度梯度不稳定性的解析理论.
,
1982, 31(1): 17-29.
doi: 10.7498/aps.31.17
|
[19] |
夏蒙棼, 周如玲. 逃逸电子不稳定性.
,
1980, 29(6): 788-793.
doi: 10.7498/aps.29.788
|
[20] |
贾惟义, 张鹏翔. 磁晶各向异性场引起的YIG单晶微波器件温度不稳定性的最佳补偿.
,
1976, 25(3): 254-264.
doi: 10.7498/aps.25.254
|