[1] |
马云鹏, 庄华鹭, 李敬锋, 李千. 应变增强Nb掺杂SrTiO3薄膜热电性能.
,
2023, 72(9): 096803.
doi: 10.7498/aps.72.20222301
|
[2] |
李会华, 张嘉辉, 余森江, 卢晨曦, 李领伟. 柔性基周期性厚度梯度薄膜的应变效应.
,
2021, 70(1): 016801.
doi: 10.7498/aps.70.20201008
|
[3] |
杜允, 鲁年鹏, 杨虎, 叶满萍, 李超荣. In掺杂氮化亚铜薄膜的电学、光学和结构特性研究.
,
2013, 62(11): 118104.
doi: 10.7498/aps.62.118104
|
[4] |
仲崇贵, 蒋青, 方靖淮, 江学范, 罗礼进. 1-3型纳米多铁复合薄膜中电场诱导的磁化研究.
,
2009, 58(10): 7227-7234.
doi: 10.7498/aps.58.7227
|
[5] |
任树洋, 任忠鸣, 任维丽, 操光辉. 3 T强磁场对真空蒸发Zn薄膜晶体结构的影响.
,
2009, 58(8): 5567-5571.
doi: 10.7498/aps.58.5567
|
[6] |
廖国进, 闫绍峰, 巴德纯. 铈掺杂氧化铝薄膜的蓝紫色发光特性.
,
2008, 57(11): 7327-7332.
doi: 10.7498/aps.57.7327
|
[7] |
李世彬, 吴志明, 袁 凯, 廖乃镘, 李 伟, 蒋亚东. 氢化非晶硅薄膜的热导率研究.
,
2008, 57(5): 3126-3131.
doi: 10.7498/aps.57.3126
|
[8] |
方 方, 郑时有, 周广有, 陈国荣, 孙大林. 氢致LaMg2Ni合金薄膜的光电性能变化.
,
2008, 57(6): 3813-3817.
doi: 10.7498/aps.57.3813
|
[9] |
张红鹰, 吴师岗. 飞秒激光作用下薄膜破坏的力学过程.
,
2007, 56(9): 5314-5317.
doi: 10.7498/aps.56.5314
|
[10] |
夏志林, 邵建达, 范正修. 薄膜体内缺陷对损伤概率的影响.
,
2007, 56(1): 400-406.
doi: 10.7498/aps.56.400
|
[11] |
李阳平, 刘正堂, 赵海龙, 刘文婷, 闫 锋. GaP薄膜的射频磁控溅射沉积及其计算机模拟.
,
2007, 56(5): 2937-2944.
doi: 10.7498/aps.56.2937
|
[12] |
范树海, 贺洪波, 邵建达, 范正修, 赵元安. 表面热透镜薄膜吸收测量灵敏度提高方法.
,
2006, 55(2): 758-763.
doi: 10.7498/aps.55.758
|
[13] |
邸玉贤, 计欣华, 胡 明, 秦玉文, 陈金龙. 基片曲率法在多孔硅薄膜残余应力检测中的应用.
,
2006, 55(10): 5451-5454.
doi: 10.7498/aps.55.5451
|
[14] |
夏志林, 范正修, 邵建达. 激光作用下薄膜中的电子-声子散射速率.
,
2006, 55(6): 3007-3012.
doi: 10.7498/aps.55.3007
|
[15] |
周 锋, 梁开明, 王国梁. 电场热处理条件下TiO2薄膜的晶化行为研究.
,
2005, 54(6): 2863-2867.
doi: 10.7498/aps.54.2863
|
[16] |
范树海, 贺洪波, 范正修, 邵建达, 赵元安. 表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验.
,
2005, 54(12): 5774-5777.
doi: 10.7498/aps.54.5774
|
[17] |
夏阿根, 杨 波, 金进生, 张亦文, 汤 凡, 叶高翔. 液体基底表面金薄膜中的有序结构和自组装现象.
,
2005, 54(1): 302-306.
doi: 10.7498/aps.54.302
|
[18] |
王文静, 萧淑琴, 刘宜华, 陈卫平, 代由勇, 姜 山, 袁慧敏, 颜世申. 射频溅射功率对FeZrBCu软磁合金薄膜巨磁阻抗效应的影响.
,
2005, 54(4): 1821-1825.
doi: 10.7498/aps.54.1821
|
[19] |
齐红基, 易 葵, 贺洪波, 邵建达. 溅射粒子能量对金属Mo薄膜表面特性的影响.
,
2004, 53(12): 4398-4404.
doi: 10.7498/aps.53.4398
|
[20] |
吴锋民, 施建青, 吴自勤. 高温下金属薄膜生长初期的模拟研究.
,
2001, 50(8): 1555-1559.
doi: 10.7498/aps.50.1555
|