[1] |
徐秋梅, 缑洁, 张崇宏, 杨治虎, 王彦瑜, 韩旭孝, 李建洋. 645 MeV Xe35+离子辐照SiO2在线光发射的研究.
,
2023, 72(4): 043402.
doi: 10.7498/aps.72.20221952
|
[2] |
王兴, 赵永涛, 程锐, 周贤明, 徐戈, 孙渊博, 雷瑜, 王瑜玉, 任洁茹, 虞洋, 李永峰, 张小安, 李耀宗, 梁昌慧, 肖国青. 重离子轰击Ta靶引起的多电离效应.
,
2012, 61(19): 193201.
doi: 10.7498/aps.61.193201
|
[3] |
马小凤, 王懿喆, 周呈悦. a-Si ∶H/SiO2多量子阱材料制备及其光学性能和微结构研究.
,
2011, 60(6): 068102.
doi: 10.7498/aps.60.068102
|
[4] |
徐秋梅, 杨治虎, 杜树斌, 常宏伟, 张艳萍. 氧离子轰击引起钽的L壳层X射线发射截面的研究.
,
2011, 60(9): 093202.
doi: 10.7498/aps.60.093202
|
[5] |
王建国, 徐忠锋, 赵永涛, 王瑜玉, 李德慧, 赵迪, 肖国青. 反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响.
,
2010, 59(11): 7803-7807.
doi: 10.7498/aps.59.7803
|
[6] |
岳建岭, 孔 明, 赵文济, 李戈扬. 反应溅射VN/SiO2纳米多层膜的微结构与力学性能.
,
2007, 56(3): 1568-1573.
doi: 10.7498/aps.56.1568
|
[7] |
曹 博, 包良满, 李公平, 何山虎. Cu/SiO2/Si(111)体系中Cu和Si的扩散及界面反应.
,
2006, 55(12): 6550-6555.
doi: 10.7498/aps.55.6550
|
[8] |
刘向绯, 蒋昌忠, 任 峰, 付 强. Ag离子注入非晶SiO2的光学吸收、拉曼谱和透射电镜研究.
,
2005, 54(10): 4633-4637.
doi: 10.7498/aps.54.4633
|
[9] |
王必本, 张兵, 郑坤, 郝伟, 王万录, 廖克俊. 离子轰击控制准直碳纳米管生长的研究.
,
2004, 53(4): 1255-1259.
doi: 10.7498/aps.53.1255
|
[10] |
马忠元, 黄信凡, 朱 达, 李 伟, 陈坤基, 冯 端. 原位等离子体逐层氧化a-Si:H/SiO2多层膜的光致发光研究.
,
2004, 53(8): 2746-2750.
doi: 10.7498/aps.53.2746
|
[11] |
丁瑞钦, 王浩, 于英敏, 王宁娟, 佘卫龙, 李润华, 丘志仁, 罗莉, 蔡志岗, W Y Cheung, S P Wong. 射频磁控共溅射GaAs/SiO2纳米颗粒镶嵌薄膜的光学性质.
,
2002, 51(4): 882-888.
doi: 10.7498/aps.51.882
|
[12] |
刘丰珍, 朱美芳, 刘涛, 李秉程. 共溅射和离子注入制备的SiO2(Eu)薄膜中Eu3+到Eu2+的转变.
,
2001, 50(3): 532-535.
doi: 10.7498/aps.50.532
|
[13] |
刘宁宁, 孙甲明, 潘少华, 陈正豪, 王荣平, 师文生, 王晓光. 非晶Si/SiO2超晶格的制备及其光谱研究.
,
2000, 49(5): 1019-1022.
doi: 10.7498/aps.49.1019
|
[14] |
孙永科, 衡成林, 王孙涛, 秦国刚, 马振昌, 宗婉华. Au/(SiO2/Si/SiO2)纳米双势垒/n+-Si结构的电致发光研究.
,
2000, 49(7): 1404-1408.
doi: 10.7498/aps.49.1404
|
[15] |
郏正明, 杨根庆, 程兆年, 柳襄怀, 邹世昌. 低能粒子轰击对Si(001)-2×1表面原子行为的影响:分子动力学模拟研究.
,
1994, 43(11): 1809-1815.
doi: 10.7498/aps.43.1809
|
[16] |
潘冀生, 王震遐, 陶振兰, 章骥平, 张慧明, 赵烈. 离子轰击引起的表面形貌对Ag的溅射产额的影响.
,
1991, 40(12): 2018-2023.
doi: 10.7498/aps.40.2018
|
[17] |
邵其鋆, 霍裕昆, 陈建新, 吴士明, 潘正瑛. 离子轰击入射角对溅射参数的影响.
,
1991, 40(4): 659-666.
doi: 10.7498/aps.40.659
|
[18] |
陈存礼;周衡南;曹明珠;蒋宏伟;徐伟文;郭玲;黄敏. SiO_2上共溅射W-Si薄膜退火后的X射线衍射研究.
,
1989, 38(8): 1379-1383.
doi: 10.7498/aps.38.1379
|
[19] |
卢江, 吴自勤. Si-W/Si/SiO2/Si(100)的横截面电子显微镜研究.
,
1989, 38(6): 981-986.
doi: 10.7498/aps.38.981
|
[20] |
齐鸣, 罗晋生. NH3退火热氮化SiO2薄膜及其与Si界面特性的研究.
,
1988, 37(10): 1600-1606.
doi: 10.7498/aps.37.1600
|