| [1] |
方波浪, 武俊杰, 王晟, 吴振杰, 李天植, 张洋, 杨鹏翎, 王建国. 基于物理信息神经网络的金属表面吸收率测量方法.
,
2024, 73(9): 094301.
doi: 10.7498/aps.73.20231453
|
| [2] |
高攀, 王骏, 赵成成, 唐家斌, 刘晶晶, 闫庆, 华灯鑫. 基于数字全息干涉术的云微物理参数同步测量方法.
,
2021, 70(9): 099201.
doi: 10.7498/aps.70.20201779
|
| [3] |
张步强, 许振宇, 刘建国, 姚路, 阮俊, 胡佳屹, 夏晖晖, 聂伟, 袁峰, 阚瑞峰. 基于波长调制技术的高温高压流场温度测量方法.
,
2019, 68(23): 233301.
doi: 10.7498/aps.68.20190515
|
| [4] |
刘国栋, 许新科, 刘炳国, 陈凤东, 胡涛, 路程, 甘雨. 基于振动抑制高精度宽带激光扫频干涉测量方法.
,
2016, 65(20): 209501.
doi: 10.7498/aps.65.209501
|
| [5] |
胡杨, 杨海亮, 孙剑锋, 孙江, 张鹏飞. 强流电子束入射角二维分布测量方法.
,
2015, 64(24): 245203.
doi: 10.7498/aps.64.245203
|
| [6] |
徐佳佳, 胡春光, 陈雪娇, 张雷, 傅星, 胡小唐. 有机半导体薄膜生长原位实时测量方法的研究.
,
2015, 64(23): 230701.
doi: 10.7498/aps.64.230701
|
| [7] |
王恒, 张尚剑, 邹新海, 刘俊伟, 张雅丽, 李和平, 刘永. 基于双音外差的电光相位调制器半波电压自校准测量方法.
,
2015, 64(12): 124211.
doi: 10.7498/aps.64.124211
|
| [8] |
常松涛, 孙志远, 张尧禹, 朱玮. 制冷型红外成像系统内部杂散辐射测量方法.
,
2015, 64(5): 050702.
doi: 10.7498/aps.64.050702
|
| [9] |
章法强, 祁建敏, 张建华, 李林波, 陈定阳, 谢红卫, 杨建伦, 陈进川. 一种基于成像板的能量卡阈式快中子图像测量方法.
,
2014, 63(12): 128701.
doi: 10.7498/aps.63.128701
|
| [10] |
张继彦, 杨家敏, 杨国洪, 丁耀南, 李军, 颜君, 吴泽清, 丁永坤, 张保汉, 郑志坚. 激光直接加热自背光法辐射不透明度测量方法探索.
,
2013, 62(19): 195201.
doi: 10.7498/aps.62.195201
|
| [11] |
赵吉祯, 欧阳晓平, 盛亮, 魏福利, 张美. 脉冲辐射成像绝对测量方法研究.
,
2013, 62(22): 225203.
doi: 10.7498/aps.62.225203
|
| [12] |
侯建平, 赵晨阳, 杨楠, 郝建苹, 赵建林. 微纳光纤端面反射特性的实验测量方法.
,
2013, 62(14): 144216.
doi: 10.7498/aps.62.144216
|
| [13] |
花世群, 骆英. 发光光弹性涂层折射率测量方法.
,
2013, 62(5): 057801.
doi: 10.7498/aps.62.057801
|
| [14] |
羊奕伟, 刘荣, 严小松. 钍俘获反应率离线伽马测量方法.
,
2013, 62(3): 032801.
doi: 10.7498/aps.62.032801
|
| [15] |
陶宁, 曾智, 冯立春, 张存林. 基于反射式脉冲红外热成像法的定量测量方法研究.
,
2012, 61(17): 174212.
doi: 10.7498/aps.61.174212
|
| [16] |
姜文正, 袁业立, 王英霞. 无海面控制点的立体摄影海浪测量方法研究.
,
2012, 61(11): 119101.
doi: 10.7498/aps.61.119101
|
| [17] |
袁永腾, 郝轶聃, 侯立飞, 涂绍勇, 邓博, 胡昕, 易荣清, 曹柱荣, 江少恩, 刘慎业, 丁永坤, 缪文勇. 流体力学不稳定性增长测量方法研究.
,
2012, 61(11): 115203.
doi: 10.7498/aps.61.115203
|
| [18] |
向永春, 龚 建, 李 伟, 卞直上, 郝樊华, 王红侠, 王 茜, 熊宗华. 37Ar测量系统的研制与能谱测量方法研究.
,
2008, 57(2): 784-789.
doi: 10.7498/aps.57.784
|
| [19] |
刘红侠, 郑雪峰, 郝跃. 薄栅氧化层中陷阱电荷密度的测量方法.
,
2002, 51(1): 163-166.
doi: 10.7498/aps.51.163
|
| [20] |
金蔚青, 小松启. 固液界面温度的一种测量方法.
,
1985, 34(9): 1166-1172.
doi: 10.7498/aps.34.1166
|
下载:
