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ENGLISH
Si(111)-(7×7)表面上Ge量子点的自组织生长
张永平
,
闫隆
,
解思深
,
庞世谨
,
高鸿钧
, 2002,
51(2)
: 296-299.
DOI:
10.7498/aps.51.296
CSTR:
32037.14.aps.51.296
Zhang Yong-Peng
,
Yan Long
,
Xie Si-Shen
,
Pang Shi-Jin
,
Gao Hong-Jun
Acta Phys. Sin.
, 2002,
51(2)
: 296-299.
DOI:
10.7498/aps.51.296
CSTR:
32037.14.aps.51.296
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用扫描隧道显微镜研究了Si(111)(7×7)表面上Ge量子点的自组织生长.室温下用固相外延法在硅基底上沉积亚单层的Ge,然后在适当的温度下退火可以聚集形成有序的Ge量子点.由于Ge在Si(111)(7×7)表面选择性的吸附而形成有序的Ge量子点.
关键词:
锗
/
硅
/
扫描隧道显微镜
/
自组织生长
Abstract
Keywords:
/
/
/
作者及机构信息
张永平
,
闫隆
,
解思深
,
庞世谨
,
高鸿钧
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