用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱 -

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用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱

, 2000, 49(4): 747-750.

DOI: 10.7498/aps.49.747

CSTR: 32037.14.aps.49.747

Acta Phys. Sin., 2000, 49(4): 747-750.

DOI: 10.7498/aps.49.747

CSTR: 32037.14.aps.49.747

摘要

在星光激光装置上利用波长为035μm的激光辐照金箔靶,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线chargecoupleddevice系统测量了其发射的软X射线能谱,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较,获得了比较一致的结果.测量结果表明,017μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射谱,具有明显的金等离子体N带和O带辐射结构.
Abstract
作者及机构信息
杨家敏,

丁耀南,

孙可煦,

成金秀,

江少恩,

郑志坚,

张文海
Authors and contacts
参考文献

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