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在矩形样品中Rymaszewski公式的适用条件的分析
孙以材
,
石俊生
, 1995,
44(12)
: 1869-1878.
DOI:
10.7498/aps.44.1869
CSTR:
32037.14.aps.44.1869
SUN YI-CAI
,
SHI JUN-SHENG
Acta Phys. Sin.
, 1995,
44(12)
: 1869-1878.
DOI:
10.7498/aps.44.1869
CSTR:
32037.14.aps.44.1869
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用有限元法计算了用Rymaszewski公式测量矩形样品薄层电阻时的理论误差与探针距及其游移度、探针离开边界距离的关系;找出了实际测量时理论误差小于3%可放置直线四探针的中央区宽度,并给予实验验证.同时对利用无限系列镜像理论证明得出小矩形样品的薄层电阻测量不受样品边界和探针游移的影响的新方案提出了异议.
Abstract
作者及机构信息
孙以材
,
石俊生
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