单轴应力对一维镜像光子晶体光子局域态透射峰的影响

李乾利; 温廷敦; 许丽萍; 王志斌

doi:10.7498/aps.62.184212

摘要

利用传输矩阵法研究了镜像异质三周期一维光子晶体中的光子局域态随单轴应力发生变化的特性. 对于镜像异质三周期光子晶体, 由于其镜像结构, 破坏了光子晶体的有序性, 产生了一个缺陷态, 使其在较宽的光子禁带中心有一个光子局域态透射峰. 研究表明: 当对镜像异质三周期光子晶体施加单轴应力时, 其中的光子局域态透射峰会随着应力的改变而发生剧烈的变化. 当外部微弱的机械应力施加到光子晶体上时, 对光子晶体形成一个拉伸应变, 拉伸应变引起光子晶体结构的变化, 进而大幅度影响光子局域态透射峰的透射率.结果表明: 透射峰的透射率明显受单轴应力的影响. 这些特性可为用此结构的光子晶体设计超高灵敏度压力传感器提供理论参考.

关键词:

Abstract

In this paper, the transfer matrix method is used to study the characteristics of the photon localization in the mirror heterogeneous structure which has three periods and one-dimensional photonic crystal in uniaxial stress change. In a mirror structure triply-periodic photonic crystal system, its mirror structure destroys the orderliness of the photonic crystal and produces a defect state, so the transmission peaks of a photon localization appear in the photonic band gap wider center. The study shows that when a uniaxial stress is exerted on the mirror structure with three-periodic photonic crystal, the photon localization transmittance peak dramatically changes with the stress. When a weak external mechanical stress is applied to the photonic crystal, photonic crystal forms a tensile strain which induces the change in the photonic crystal structure and significantly affects the rate of the transmittance peak transmittance of photon localization. The results show that the transmission peak transmittance is significantly influenced by the uniaxial stress. These features provide a theoretical reference for the design of ultra-high-sensitivity pressure sensor with the photonic crystal structure.

Keywords:

作者及机构信息

1.
中北大学理学院物理系, 太原 030051;

2.
中北大学微米纳米技术研究中心, 太原 030051;

3.
中北大学, 仪器科学与动态测试教育部重点实验室, 太原 030051;

4.
中北大学, 电子测试国家重点实验室, 太原 030051;

5.
中北大学, 山西省光电信息与仪器工程技术研究中心, 太原 030051

基金项目: 国家自然科学基金(批准号:60776062,50730009)和国家自然科学基金仪器专项基金(批准号:61127015)资助的课题.

Authors and contacts

1.
Department of physics, North University of China, Taiyuan 030051, China;

2.
The Center of Micro/Nano Technology, North University of China, Taiyuan 030051, China;

3.
MOE Key Laboratory of Instrumentation Science and Dynamic Measurement, North University of China, Taiyuan 030051, China;

4.
National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, North University of China, Taiyuan 030051, China;

5.
Engineering Technology Research Center of Shanxi Province for Opto-Electronic Information and Instrument, North University of China, Taiyuan 030051, China

Funds: Project supported by the National Natural Science Foundation of China (Grant Nos. 60776062, 50730009) and the Special Fund for Basic Research on Scientific Instruments of the National Natural Science Foundation of China (Grant No. 61127015).

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