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电子全息方法测定GaN/AlGaN多量子阱结构的极性

戴 涛 刘玉资 张 泽

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电子全息方法测定GaN/AlGaN多量子阱结构的极性

戴 涛, 刘玉资, 张 泽

Electron holography determination of the growth polarity of GaN/AlGaN multi-quantum well structure

Dai Tao, Liu Yu-Zi, Zhang Ze
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出版历程
  • 收稿日期:  2006-01-20
  • 修回日期:  2006-03-15
  • 刊出日期:  2006-11-20

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