[1] |
杨旭云, 陈永聪, 芦文斌, 朱晓梅, 敖平. 激子极化子共振束缚介导的光合作用能量传输.
,
2022, 71(23): 234202.
doi: 10.7498/aps.71.20221412
|
[2] |
柳福提, 张淑华, 程艳, 陈向荣, 程晓洪. (GaAs)n(n=1-4)原子链电子输运性质的理论计算.
,
2016, 65(10): 106201.
doi: 10.7498/aps.65.106201
|
[3] |
胡恒恺, 王开, 杨光, 刘茜, 裴文江, 仇慎伟, 蔚承建, 张毅锋. 基于交通流量的病毒爆发动力行为研究.
,
2012, 61(20): 200209.
doi: 10.7498/aps.61.200209
|
[4] |
熊 稳, 赵 铧. ZnO薄膜的激子能量和束缚能的计算.
,
2007, 56(2): 1061-1065.
doi: 10.7498/aps.56.1061
|
[5] |
张 红, 刘 磊, 刘建军. 对称GaAs/Al0.3Ga0.7As双量子阱中激子的束缚能.
,
2007, 56(1): 487-490.
doi: 10.7498/aps.56.487
|
[6] |
闫海青, 唐 晨, 张 皞, 刘 铭, 张桂敏. 半导体束缚激子基态能的变尺度法.
,
2004, 53(11): 3877-3881.
doi: 10.7498/aps.53.3877
|
[7] |
陈敦军, 沈 波, 张开骁, 邓咏桢, 范 杰, 张 荣, 施 毅, 郑有炓. GaN1-xPx薄膜的结构特性研究.
,
2003, 52(7): 1788-1791.
doi: 10.7498/aps.52.1788
|
[8] |
江国健, 张擎雪, 庄汉锐, 李文兰, 李懋滋. TiC和AlN材料制备中的重力行为研究(Ⅰ).
,
2000, 49(12): 2494-2497.
doi: 10.7498/aps.49.2494
|
[9] |
江国健, 张擎雪, 庄汉锐, 李文兰, 李懋滋. TiC和AlN材料制备中的重力行为研究(Ⅲ).
,
2000, 49(12): 2502-2506.
doi: 10.7498/aps.49.2502
|
[10] |
江国健, 张擎雪, 庄汉锐, 李文兰, 李懋滋. TiC和AlN材料制备中的重力行为研究(Ⅱ).
,
2000, 49(12): 2498-2501.
doi: 10.7498/aps.49.2498
|
[11] |
傅柔励, 叶红娟, 李 蕾, 傅荣堂, 缪 健, 孙 鑫, 张志林. 电场作用下高分子中自陷束缚激子的极化.
,
1998, 47(1): 94-101.
doi: 10.7498/aps.47.94
|
[12] |
张勇, 郑健生, 吴伯僖. GaP和GaAs1-xPx中N束缚激子压力行为的理论计算.
,
1991, 40(8): 1329-1338.
doi: 10.7498/aps.40.1329
|
[13] |
袁皓心, 李齐光, 姜山, 陆卫, 童斐明, 汤定元. Hg1-xCdxTe n+-p光电二极管中的深能级及其电流机构的流体静压力研究.
,
1990, 39(3): 464-471.
doi: 10.7498/aps.39.464
|
[14] |
朱嘉麟, 唐道华, 熊家炯, 顾秉林. 电场下GaAs/Ga1-xAlxAs量子阱中的子带和激子.
,
1989, 38(3): 385-393.
doi: 10.7498/aps.38.385
|
[15] |
顾一鸣, 黄明竹, 汪克林. GaAs1-xPx中3d过渡金属杂质的电子结构.
,
1988, 37(1): 11-19.
doi: 10.7498/aps.37.11
|
[16] |
赵学恕, 李国华, 韩和相, 汪兆平, 唐汝明, 车荣钲. GaAs中N等电子陷阱的研究.
,
1984, 33(4): 588-592.
doi: 10.7498/aps.33.588
|
[17] |
徐俊英, 陈良惠, 弓继书, 徐仲英, 庄蔚华, 李玉璋, 许继宗, 吴灵犀. 1.8—4.2K GaAs1-xPx注N+,注Zn+光荧光谱.
,
1984, 33(6): 833-839.
doi: 10.7498/aps.33.833
|
[18] |
徐永年, 张开明. GaAs1-xPx(110)清洁表面结构和电子态的研究.
,
1983, 32(2): 247-250.
doi: 10.7498/aps.32.247
|
[19] |
徐永年. GaAs(110)面的紧束缚计算.
,
1981, 30(10): 1400-1405.
doi: 10.7498/aps.30.1400
|
[20] |
张幼文, 郁启华. 用赝势微扰法计算某些半导体的能带结构(用于GaAs,GaP和Ga[As1-xPx]合金).
,
1965, 21(6): 1162-1169.
doi: 10.7498/aps.21.1162
|